在亿万斯年的历史长河中，提出问题与解决实际问题一直是推动人类文明进步的主要动力。作为太阳系唯一的文明，人类不断运用智慧解决各种难题，从电、电话、无线电到计算机、等的发明，这些都彻底改变了人类的世界。而未来的世界中，还将会有更多未知的挑战等待人类去探索和解决。

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  鉴于第三代半导体因其优异的性能，在半导体照明、新一代移动通信、新能源并网、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子

  需求和痛点宽禁带半导体（WBG）作为一项革命性的材料，可提供更高的速度、更高的电压和更高的热操作能力，来提升效率，减少尺寸和成本。然而，这也带来了新的挑战，半导体制造

  参数是可以评估芯片和器件性能，因为它们的开关速率较慢。然而，对于宽禁带半导体，测试静态和动态参数都是重要的。宽禁带半导体的更高开关速率会在开关瞬态过程中会造成损失。JEDEC是全球领先的微电子行业标准化组织，它将WBG半导体的动态测试定义为GaN JC-70.1和SiC JC-70.2。随着JEDEC标准的发展，测试WBG半导体慢慢的变成了一项复杂的任务，更多的测试涌现出来。第三代半导体需要对应不同的测试需求，不仅要测量击穿电压、工作电流、导通电阻、IV、CV曲线等静态参数，还需要对开关时间、损耗能量、动态导通电阻等参数进行完全表征。因此，WBG器件制造商和测试机构需要一种全面的解决方案，可以重复、可靠、安全地测试动态参数。

  Keysight PD1500A动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一个全方位针对分立器件的测试解决方案。双脉冲测试（DPT）系统能帮助您实现可靠、可重复的功率半导体器件动态测试结果。PD1500A 解决方案可以运行全自动化测试，这中间还包括开关特性、栅极电荷和反向恢复，PD1500A 采用的均是标准的测量技术，例如探头补偿、增益/偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。此外，通过热情参加制定GaN JC-70.1和SiC JC-70.2标准，Keysight PD1500A可提供符合JEDEC规范的可靠、重复的宽带隙半导体测量结果。

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  (SiC、GaN)电力电子技术应用交流会”将于7月16日在浙江大学玉泉校区举办。

  泰克科技与忱芯科技达成了全范围的战略合作联盟，双方将深度整合资源，优势互补，围绕

  难题 /

  材料成本得到明显下降，其应用情况将会发生明显变化。 编者按： 近年来，以氮化镓和碳化硅两种主要新材料为代表的

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